NF H00-072-5-2008 运输载荷.动态机械载荷的测量和评定.第5部分:试验规范的衍生
时间:2024-05-17 02:48:41 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9933
【英文标准名称】:Transportationloads-Measurementandevaluationofdynamicmechanicalloads-Part5:derivationoftestspecifications.
【原文标准名称】:运输载荷.动态机械载荷的测量和评定.第5部分:试验规范的衍生
【标准号】:NFH00-072-5-2008
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2008-03-01
【实施或试行日期】:2008-03-27
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:危险案例;数据分析;衍生的;排放物;动态的;动力荷载;电气工程;动力应力;疲劳;货物运输;搬运应力;模仿;冲击应力;装载量数据;负荷;运输方法;测量;测量设备;测量技术;力学;包装件;包装;规则;道路运输;海运货物;模拟;试验规范;测试;测试条件;运输条件;运输包装;运输;运输链;振动
【英文主题词】:Casesofdamage;Dataanalysis;Derived;Discharges;Dynamic;Dynamicloading;Dynamicstress;Fatigue;Freighttransport;Handlingstresses;Imitations;Impactstress;Loaddate;Loading;Meansoftransport;Measurement;Measuringequipment;Measuringtechniques;Mechanic;Packages;Packaging;Regulations;Roadtransport;Shippinggoods;Simulation;Testspecification;Testing;Testingconditions;Transport;Transportconditions;Transportpacking;Transportation;Transportationchains;Vibration
【摘要】:
【中国标准分类号】:A87
【国际标准分类号】:55_180_01
【页数】:26P.;A4
【正文语种】:其他
【英文标准名称】:SamplingWater
【原文标准名称】:水的抽样
【标准号】:ASTMD3370-1982
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1982
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:水;抽样方法;工艺
【英文主题词】:processes;water;samplingmethods
【摘要】:
【中国标准分类号】:Z11
【国际标准分类号】:13_060_40
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part23:Hightemperatureoperatinglife
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命
【标准号】:IEC60749-23-2004
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2004-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机械试验;高温试验;半导体器件;粘结强度;电子设备及元件;电气工程;试验;集成电路;环境试验;组件;半导体;气候试验;电子工程;定义
【英文主题词】:Bondstrength;Climate;Climatictests;Components;Defects;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Environmentaltests;High-temperaturetesting;Integratedcircuits;Life(durability);Lifetest;Mechanicaltesting;Moisturetest;Performanceinservice;Prestress;Qualityassurance;Semiconductordevices;Semiconductors;Simulation;Stresstime;Temperaturetest;Testing
【摘要】:Thistestisusedtodeterminetheeffectsofbiasconditionsandtemperatureonsolidstatedevicesovertime.Itsimulatesthedeviceoperatingconditioninanacceleratedway,andisprimarilyusedfordevicequalificationandreliabilitymonitoring.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:26P.;A4
【正文语种】:英语