JIS L0857-1995 色牢度耐过氧化物漂洗的试验方法
时间:2024-05-15 10:46:57 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8419
【英文标准名称】:Testmethodforcolourfastnesstobleachingwithperoxide
【原文标准名称】:色牢度耐过氧化物漂洗的试验方法
【标准号】:JISL0857-1995
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1995-08-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonConsumerLifeProducts
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:染色;色度特征;抗氧化;色牢度试验;过氧化氢;漂白;耐化学性试验
【英文主题词】:dyeing;bleaching;;colorimetriccharacteristics;;chemical-resistancetests;
【摘要】:この規格は,染色しに繊維製品の加工工程上,通常用いらわる濃度の過酸化漂白に対する染色堅ろう度試験方法について規定する。
【中国标准分类号】:W70
【国际标准分类号】:59_080_01
【页数】:6P;A4
【正文语种】:日语
【英文标准名称】:Surfacechemicalanalysis--Determinationofsurfaceelementalcontaminationonsiliconwafersbytotal-reflectionX-rayfluorescence(TXRF)spectroscopy
【原文标准名称】:表面化学分析.用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面主要污染物
【标准号】:JISK0148-2005
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2005-03-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonBasicEngineering
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,シリコン鏡面ウェーハ又はエピタキシャルウェーハの表面原子濃度を,全反射蛍光X線分折法(TXRF)によって定量する方法について規定する。この方法は,次の元素分析に適用する。—原子番号が16(S)から92(U)までの元素—表面原子濃度が1×10atoms/cmから1×10atoms/cmまでの汚染元素—VPD試料前処理法を用いる場合は,表面原子濃度が5×10atoms/cmから5×10atoms/cmまでの汚染元素
【中国标准分类号】:A43
【国际标准分类号】:71_040_40
【页数】:24P;A4
【正文语种】:日语
【英文标准名称】:ChipCarrierSocketsforLeadlesstypeA,B,DChipCarriersforuseinElectronicEquipment,BlankDetailSpecificationfor/Note:reaffirmationofANSI/EIA540AA00-1991*Approved1997-11-06.
【原文标准名称】:电子设备用无引线A、B、D型片载体用片载插座的空白详细规范.注:ANSI/EIA540AA00-1991的再确认1997-11-06批准
【标准号】:ANSI/EIA540AAOO-1991
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:ProvidesalltheinformationrequiredfortheidentificationandqualityassessmentofchipcarrierssocketsforleadlessA,B,andDchipcarriers.
【中国标准分类号】:L24
【国际标准分类号】:31_220_10
【页数】:
【正文语种】:英语